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大的沒有小的來替!用 GTEM小室做電磁兼容測試

日期:2024-09-20 10:22
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摘要: 作為替代戶外開闊場而建立的電波暗室,因其性能完善而獲得了廣泛的應(yīng)用,但由于造價和必須配備的設(shè)備昂貴,阻礙了它向中小企業(yè)的發(fā)展。這里介紹的 GETM小室又稱吉赫芝(GHz)橫電磁波室則是近十幾年才發(fā)展起來的新型電磁兼容測試設(shè)備,它的工作頻率范圍可以從直流至數(shù) GHz以上,內(nèi)部可用場區(qū)較大,尤其可貴的是小室本身與其配套設(shè)備的總價不算過于昂貴,能為大多數(shù)企業(yè)所接受。因此 GTEM小室國內(nèi)取得了長足發(fā)展,成為企業(yè)對于外型尺寸不算太大的設(shè)備開展射頻輻射電磁場抗擾度試驗的優(yōu)選方案。 1、G...

       作為替代戶外開闊場而建立的電波暗室,因其性能完善而獲得了廣泛的應(yīng)用,但由于造價和必須配備的設(shè)備昂貴,阻礙了它向中小企業(yè)的發(fā)展。這里介紹的 GETM小室又稱吉赫芝(GHz)橫電磁波室則是近十幾年才發(fā)展起來的新型電磁兼容測試設(shè)備,它的工作頻率范圍可以從直流至數(shù) GHz以上,內(nèi)部可用場區(qū)較大,尤其可貴的是小室本身與其配套設(shè)備的總價不算過于昂貴,能為大多數(shù)企業(yè)所接受。因此 GTEM小室國內(nèi)取得了長足發(fā)展,成為企業(yè)對于外型尺寸不算太大的設(shè)備開展射頻輻射電磁場抗擾度試驗的優(yōu)選方案。


 

1GTEM小室簡介 GTEM小室是根據(jù)同軸及非對稱矩形傳輸線原理設(shè)計而成的設(shè)備。為避免內(nèi)部電磁波的反射和諧振,GTEM小室在外形上被設(shè)計成尖錐形,其輸入端采用 N型同軸接頭,隨后中心導(dǎo)體展平成為一塊扇形板,稱為芯板。在小室的芯板和底板之間形成矩形均勻場區(qū)。為了使球面波(嚴(yán)格地說,由 N型接頭向 GTEM小室傳播的是球面波,但由于所設(shè)計的張角很小,因而該球面波近似于平面波)從輸入端到負載端有良好的傳輸特性,芯板的終端因采用了分布式電阻匹配網(wǎng)絡(luò),從而成為無反射終端。GTEM小室的端面還貼有吸波材料,用它對**頻率的電磁波作進一步吸收。因此在小室的芯板和底板之間產(chǎn)生了一個均勻場強的測試區(qū)域。試驗時,試品被置于測試區(qū)中,為了做到不因試品置入而過于影響場的均勻性,試品以不超過芯板和底板之間距離的1/3高度為宜。

 

2、工作原理 GTEM小室中的電場強度與從 N型接頭輸入信號電壓 V成正比,與芯板距底板垂直距離 h成反比: E = V/h 50?匹配的系統(tǒng)里,芯板對底板的電壓與 N型接頭的信號輸入功率之間的關(guān)系滿足 V =RP1/2 =50P1/2故場強 E =50P1/2 / h 如考慮實測值與理論值之間的差異,上式還應(yīng)乘一個系數(shù) k,因此實際的電場強度是E = k50P1/2 / h 從上式可見,若在 GTEM小室注入同樣的功率,芯板的位置距底板的距離越近(h值越?。瑒t可獲得較大的場強;若產(chǎn)生同相的場強,較大空間處( h值越大)需要的輸入功亦較大。上述結(jié)論表明,對于較小的試品,我們可以把試品放在 GTEM小室中比較靠前的位置,這樣用比較小的信號輸入功率,就可以得到足夠高的電場強度。注意,試品的高度不能超過選定位置芯板與底板間距的 1/3

 

3、GTEM小室在電磁兼容測試中的應(yīng)用 3.1 射頻輻射電磁場抗擾度試驗采用 GTEM小室做射頻輻射電磁場抗擾度試驗的優(yōu)點:GTEM產(chǎn)生的電場強度要遠大于天線產(chǎn)生的場強,所以用比較小的射頻功率放大器可以產(chǎn)生很強的電場,使得整個測試系統(tǒng)的價格大大降低。這對尺寸不太大的設(shè)備來說,是一個非常好的射頻輻射電磁場抗擾度試驗方案。GTEM小室做射頻輻射電磁場抗擾度試驗不需要用天線,所以可方便地用于自動測試,大大減少了測試時間,也降低了對試驗人員的技術(shù)要求。

 

      當(dāng)信號源經(jīng)過放大后注入到 GTEM小室的一端(通過 N型同軸接頭),就能在芯板和底板之間形成很強的均勻電磁場,放置在被測件附近的電場監(jiān)視探頭監(jiān)測此場強,再經(jīng)由計算機得到輸入功率值,直接調(diào)節(jié)信號源以求達到所需求的場強值。測控軟件控制信號源以一定的步長進行輻射場的頻率掃描。另有視頻監(jiān)視器(攝像頭安裝在 GTEM小室里面,圖 4中未畫出,試驗人員在 GTEM小室外通過監(jiān)視器)觀測試品在射頻電磁場干擾下的工作情況。操作方法:

①將試品及場探頭置于 GTEM小室內(nèi);

②外接信號源,通過功率放大器,在 GTEM小室內(nèi)建立均勻電場;

③確定測試頻率范圍及調(diào)制方法和調(diào)制深度;

④調(diào)整信號源輸出電平(注意,切勿超過功率放大器允許的*大輸入電平);

⑤通過場強監(jiān)視計監(jiān)測 GTEM小室的場強,使之達到所需的強度;

⑥重復(fù)③~⑤步驟,觀測確定被試品的電磁輻射敏感度。

 

3.2 試品的電磁騷擾輻射發(fā)射測試系統(tǒng)試品的電磁騷擾輻射發(fā)射值測試在理論上也能在 GTEM小室內(nèi)進行,這時小室內(nèi)芯板和底板就代替暗室測試中的天線接收試品工作過程中產(chǎn)生的輻射騷擾。GTEM小室的 N型接頭接干擾接收機,通過干擾接收機便能測試試品工作過程中電磁騷擾的輻射發(fā)射情況。再通過計算機和處理軟件,以定出試品輻射發(fā)射的測試結(jié)果。注意,這里存在一個在 GTEM小室中的測試結(jié)果和開闊場或電波暗室測試結(jié)果的比對問題,從中找出規(guī)律(建立數(shù)學(xué)模型),進行必要的修正,而這也正是 GTEM小室測試軟件所要解決的問題。另外,試品在GTEM小室中擺放的位置不同,造成芯板與底板之間相對距離的不同,也將是導(dǎo)致測試結(jié)果不同的關(guān)鍵因素,試驗人員務(wù)必給以充分注意。在 GTEM小室內(nèi)做試品電磁騷擾輻射發(fā)射試驗的操作方法如下:

①將被試品置于 GTEM小室內(nèi);

②外接干擾接收機,接收試品的輻射騷擾電平輸出;

③根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)置掃描頻率的范圍和檢波方式及分辨率帶寬;

④干擾接收機測試被試品的輻射騷擾電平值;

⑤通過計算機及軟件進行數(shù)據(jù)處理,得到*終測試結(jié)果。

 

        注意,用 GTEM小室無論是做射頻輻射電磁場抗擾度試驗,還是做試品本身工作中所產(chǎn)生的輻射電磁騷擾的發(fā)射試驗,都有一個極化問題(在開闊場和電波暗室中做測試,是通過改變擺放天線的方向來實現(xiàn)的)。在 GTEM小室里的芯板和底板扮演了天線的角色,它們的位置是不能變化的,因此要想改變電場的極化方向,只能通過人為地改變試品相對芯板和底板的擺放方向來實現(xiàn)了。

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